DFT有哪些重要的性质
我这主要是指DFT在芯片设计领域的含义，即可测性设计(Design for Test)
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。
三种常见的可测性技术
扫描路径设计(Scan Design)
扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。
内建自测试
内建自测试（BIST）设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是，内建自测试的测试向量一般是内部生成的，而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和设备（如ATE设备），但它增加了芯片设计的复杂性。
边界扫描测试
为了对电路板级的逻辑和连接进行测试，工业界和学术界提出了一种边界扫描的设计，边界扫描主要是指对芯片管脚与核心逻辑之间的连接进行扫描。
DFT的其他含义
DFT： Drive Fitness Test 驱动器健康检测技术，是IBM公司为其PC赢哦俺开发的数据保护技术，它通过使用DFT程序访问IBM硬盘里的DFT微代码对硬盘进行检测，可以让用户方便快捷地检测硬盘的运转状况。 据研究表明，在用户送回返修的硬盘中，大部分硬盘本身是好的。DFT能够减少这种清醒的发生，为用户节省时间和精力，避免因误判而造成数据丢失。它在硬盘上分隔出一个单独的空间给DFT程序。即使在系统软件不能正常工作的情况下也能调用。 DFT微代码可以自动对错误事件进行登记，并将登记数据保存在硬盘的保留区域中。DFT微代码还可以实时对硬盘进行物理分析，如通过读取伺服位置错误信号来计算出盘片交换、伺服稳定性、重复移动等参数，并给出图形供用户或技术人员参考。这是一个全新的观念，硬盘子系统的控制信号可以被用来分析硬盘本身的机械状况。 而DFT软件是一个独立的不依赖操作系统的软件，它可以在用户其他任何软件失效的情况下运行。 DFT: Discrete Fourier Transform 离散傅里叶变换 的缩写 DFT Design For Test;面向测试的设计，用得更广的中文翻译是：可测试性设计 DFT Density Functional Theory 密度泛函理论 DFT Dry film thickness(干膜厚度）指漆膜实干后的涂层厚度 DFT Dark Force Team，也即是黑暗军团，是国外的一个由智能手机玩家组成的团体，核心成员有cotulla、beep等。
dft指的是什么？
DFT（离散傅里叶变换）一般指离散傅里叶变换。离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，DFT）傅里叶分析方法是信号分析的最基本方法，傅里叶变换是傅里叶分析的核心，通过它把信号从时间域变换到频率域，进而研究信号的频谱结构和变化规律。物理意义设x(n)是长度为N的有限长序列，则其傅里叶变换，Z变换与离散傅里叶变换分别用以下三个关系式表示：X(e^jω)= ∑n={0,N-1}x(n) e^j-ωn。X(z)= ∑n={0,N-1}x(n)z^-n。X(k)= ∑n={0,N-1}x(n) e^-j2πkn/N。单位圆上的Z变换就是序列的傅里叶变换。离散傅里叶变换是x(n)的频谱X(ejω)在[0,2π]上的N点等间隔采样,也就是对序列频谱的离散化,这就是DFT的物理意义。
dft是什么?
DFT是design for testability（可测试性技术）的缩写。DFT是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常。而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，看似增加了成本，但是往往能在测试阶段节约更多的时间和金钱。相关信息DFT的关键也就在于取舍，测试逻辑的代价和效果的平衡。核心目的在于提高Observability 和Controllability。DFT主要负责制造时产生的缺陷检测，逻辑上的错误鞭长莫及。具体例子就是芯片挑体质。在RTL设计阶段开始介入，设计插入DFT逻辑，设计并验证测试向量（功能仿真），综合时序也要收敛，得到芯片后进行机台调试。
